お役立ち情報

サイロ内に残った古い原料も検出!荷残りによる品質事故を回避


レベル計でサイロ内の荷残りを検出して品質不良や品質事故を回避!


食品製造では新鮮な原料に古い原料が混入すると品質事故に繋がります。
某飲料工場ではその原因となるホッパ内の荷残りを下限スイッチで検出できないことから毎回目視で確認しお困りでした。
マイクロ波レベル計はこれを解決し省人化に貢献しています。
 

注目ポイント!


波形データ


従来なら荷残りによるマイクロ波の反射波はノイズとして処理され計測しないようにします。
今回、これを逆手にとってノイズを抑制せずにノイズ波を優先的に捉えられる様にすることで荷残りの検知ができるようになりました。


 
 


荷残りを無くし品質不良や品質事故を回避

マイクロ波レベル計による荷残り検知 導入事例


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非接触で貯蔵レベルを安定計測できる マイクロ波レベル計 

マイクロ波レベル計とは粉塵・蒸気・高温環境の中の液体タン
クや粉粒体、塊体などの貯蔵レベルを非接触で計測できるレベ
ル計です。
在庫管理や制御による設備の自動化や省力化に貢献します。


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